Master Degree / Yüksek Lisans Tezleri
Permanent URI for this collectionhttps://hdl.handle.net/11147/3008
Browse
2 results
Search Results
Master Thesis Grafen Silisyum Karbür Tabanlı Quadrant Fotodedektör Aygıt Geliştirilmesi(2025) Reyhan, Ahmet Yusuf; Çelebi, Cem; Ünverdi, ÖzhanBu tez çalışmasında, Kimyasal Buhar Biriktirme yöntemi ile üretilen p-tipi grafen ve n-tipi Silisyum Bu tez çalışmasında Grafen/Silisyum Karbür aygıt mimarisine sahip kendinden beslemeli, Schottky eklemli ve ultraviyole bölgede çalışacak kadran fotodedektör aygıt tasarlanmış ve karakterize edilmiştir. Çalışmanın amacı kapsamında kimyasal buhar biriktirme metodu ile sentez edilmiş p-tipi çift katmanlı grafen malzemesinin kadran fotodedektör mimarisine uyumluluğunu değerlendirilmiş ve ışık pozisyonunu algılama kapasitesini deneysel metodlar ile incelenmiştir. Aygıtın n-tipi eklemini oluşturan silisyum karbür alttaşın üzerinde termal buharlaştırma metodu ile kadran aygıtın elektrotları ve yapısı oluşturulmuştur. Çift katmanlı p-tipi grafen bu yapının üzerine transfer edilerek p-i-n eklemlerine sahip kendinden beslemeli aygıt yapısı tamamlanmıştır. Büyütülmüş çift katmanlı grafenin varlığı Raman spektroskobisi metodu ile doğrulanmıştır. Aygıtın karanlık koşullarda akım-gerilim özellikleri ölçülerek, karanlık akım, Schottky bariyer yüksekliği ve idealite faktörleri hesaplanmıştır. Cihazın 250 – 300 nanometre dalga boyundaki ultraviyole ışınına karşı tepkiselliği ölçülmüştür. Son olarak pozisyonlama hassasiyeti sensörün aktif bölgesinde seçilen bir aramada tarama yaparak belirlenmiştir. Bu çalışma gelecekte geliştirilebilecek Grafen/Silisyum Karbür mimarisine sahip kadran fotodedektörler için bir giriş niteliği taşımaktadır.Master Thesis Nanotribological Properties of Graphene Grown on Silicon Carbide Semiconductor(Izmir Institute of Technology, 2018) Keskin, Yasemin; Çelebi, Cem; Ünverdi, ÖzhanIn this thesis, nanotribological properties of single and multilayer graphene grown on two sides of the Silicon Carbide (SiC) semiconductors were investigated. For this purpose, epitaxial growth technique was used to obtain single-layer graphene on both C-face and Si-face. This thesis consists of two purposes: One of them is to investigate the nanotribological properties of the single and multilayer graphene grown on C-face of SiC and the other one is to compare nanotribological properties of the single layer graphene on two sides of SiC. Graphene, a two-dimensional semi-metal material, was grown epitaxially on the SiC surface under ultra-high vacuum conditions. In epitaxial method, direct current heating is applied to the SiC substrate to vaporize Si atoms from the surface. As the Si atoms evaporate, the remaining C atoms form a graphene layers on top. When single layer graphene is formed on the Si-face, multilayer graphene is formed on the C-face at the same parameters. For this reason, two different samples of graphene were needed in order to compare the tribological properties of the single layer graphene grown on both Si-face and C-face for the secondary objective. A capping method was used to control the rate of Si atoms evaporating from the SiC surface. By this way, single layer graphene on the C-face was obtained too. Number of layers were determined by Raman Spectroscopy. Nanotribological characterizations were done with Atomic Force Microscopy. The experimental results showed that single layer graphene on the Si-face has higher friction coefficient compared to single layer graphene on the C-face. It has been found that the single layer graphene (0.02) formed on the C-surface has a lower coefficient of friction than the multilayer graphene (0.82). It is expected that with the support of the theoretical studies on this results will increase the interest in this study by means of these results are new and original for the literature.