Master Degree / Yüksek Lisans Tezleri

Permanent URI for this collectionhttps://hdl.handle.net/11147/3008

Browse

Filters

20191

Settings

Author: search.filters.author.Aygün Özyüzer, GülnurInstitution Author: search.filters.institutionAuthor.Uyanık, Zemzem

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Master Thesis
    Improvement of Transparent Conductive Hybrid Ito/Ag Electrodes by Electro-Annealing
    (Izmir Institute of Technology, 2019) Uyanık, Zemzem; Uyanık, Zemzem; Aygün, Gülnur; Aygün Özyüzer, Gülnur; 04.05. Department of Pyhsics; 01. Izmir Institute of Technology; 04. Faculty of Science
    Hibrit ITO/Ag/ITO (IAI) ince film tabaka yapılarının optik ve elektriksel performansları, ITO ve Ag katmanı kalınlığının fonksiyonu olarak incelenmiştir. Hibrit IAI ince filmleri borosilikat cam üzerine oda sıcaklığında yüksek vakum altında dc mıknatıssal saçtırma yöntemi ile üretilmiştir. Hibrit yapıdaki ITO, Ag, ITO filmlerin kalınlığı düşük tabaka direncine ve yüksek optik geçirgenliğe sahip olacak şekilde ayarlanmıştır. ITO katmanları arasındaki gömülü metal Ag katmanı, 10 nm ile 25 nm arasında değişen kalınlıklarda kullanılmıştır. IAI tabakası analiz edildikten sonra IAI ince filmlerin kristalliğini iyileştirmek için elektro-tavlama uygulanmıştır ve elektrik akımının IAI ince filmler üzerindeki etkisinin araştırılmasıyla elektronik cihaz ömrünün arttırılması amaçlanmıştır. Elektro-tavlamanın endüstriyel uygulamalar için daha uygun bir teknik olduğu sonucuna varılmıştır. IAI ince filmin yüzey direnci elektro-tavlama işleminden sonra 8.7 Ω/□ olarak bulunmuştur en yüksek geçirgenliğe ise 88.9% da ulaşılmıştır. Hibrit IAI ince filmlerin optoelektronik özellikleri, ITO film kristalliğini etkileyen ara katman olan metal Ag kalınlığına bağlıdır. Hibrit IAI ince filmlerinin yapısal özellikleri, CuK����� radyasyonuna sahip (�����=0.154 nm) X-ışını kırınımı (XRD) (Philips X'Pert Pro) ile tavlama sıcaklığının fonksiyonu olarak karakterize edilmiştir. IAI ince filmlerinin morfolojisi hakkında bilgi taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile elde edilmiştir. IAI ince filmin optik geçirgenliği 200-2600 nm dalga boyu aralığına sahip PerkinElmerLambda 950 UV/Vis/NIR Spektrofotometre ile ölçülmüştür. Yüzey direnci ölçümleri için Keithley 2424 kaynak metrisi kullanılarak dört nokta yöntemi uygulanmıştır.