Computer Engineering / Bilgisayar Mühendisliği

Permanent URI for this collectionhttps://hdl.handle.net/11147/10

Browse

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Patent
    Bir Yazılımın Dayanıklılığını Ölçmeye Yönelik Bir Yöntem
    (Türk Patent ve Marka Kurumu, 2021)
    Buluş, bir yazılımın girdilere karşı dayanıklılığını ölçmeye yönelik; FIPS (Fonksiyon 5 Girdi Parametresi Durumu) düğümleri (A) ile, kod içerisinde birbirinden bağımsız olarak girdilere karşı zafiyetler için gerekli önlemlerin alınıp alınmadığını kontrol edilerek sayısal değerlerin alınması, FIPS düğümlerinde (A) alınan bu değerlerin incelenen zafiyetlere ilişkin zafiyet düğümlerine (B) aktarılması ve bilgilerin işlenmesi, zafiyet düğümlerinde (B) işlenen bilgilerin uygulama düğümüne (C) aktarılması, 10 uygulama düğümünün (C) gelen bilgileri değerlendirerek, yazılımın genel olarak dayanıklılığına dair çıkarsama yaparak bir ölçüm vermesi işlem adımlarını içeren bir yöntem ile ilgilidir.
  • Patent
    Mc/dc Testlerinin Önceliklendirilmesine İlişkin Bir Yöntem
    (Türk Patent Enstitüsü, 2021)
    Buluş, MC/DC (Modified Condition/Decision Coverage) testi, DO-178 standardınca önerilen ve A seviyesinde kritik yazılımların geliştirme sürecinde kullanılan bir test yöntemi ile ilgilidir.