Dalga Boyu Dağılımlı X-Işını Fluoresans Spektrometresi WDXRF (Rigaku ZSX Primus IV)
| dc.date.accessioned | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.date.available | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11147/17204 | |
| dc.title | Dalga Boyu Dağılımlı X-Işını Fluoresans Spektrometresi WDXRF (Rigaku ZSX Primus IV) | |
| dspace.entity.type | Equipment | |
| gequipment.acronym | Rigaku ZSX Primus IV | |
| gequipment.description | Bordan (B) Uranyuma (U) kadar tüm elementlerin analizini yapmakta kullanılır. Elementel haritalama (mapping) yapılmaktadır. Kaplama kalınlığı ( 1 μm üstü) ölçülür. Numune Gereksinimleri: Katı, sıvı, pres, eritiş, toz ve ince film. Örnek en az 2 g olmalıdır. Tanecik boyutu 50 mikron altı olmalıdır. İnce film ve katı numuneler 10mm-32mm çap aralığında, maksimum 10 mm yüksekliğinde olmalıdır. EAS-e-TAM uygulamasında RÜZMER üzerinden analiz talebinde bulunabilirsiniz. | |
| gequipment.owner | 01. Izmir Institute of Technology | |
| local.identifier.crisid | equipment14340 | |
| relation.isOrgUnitOfEquipment.latestForDiscovery | 9af2b05f-28ac-4003-8abe-a4dfe192da5e |