Raman Spektrometresi (Renishaw inVia Qontor)
| dc.date.accessioned | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.date.available | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11147/17206 | |
| dc.title | Raman Spektrometresi (Renishaw inVia Qontor) | |
| dspace.entity.type | Equipment | |
| gequipment.acronym | Renishaw inVia Qontor | |
| gequipment.description | Tek spektrum, çoklu spektrum, derinlik profili analizi ve 2B haritalama analizleri yapılmaktadır. Lazerler: 532nm, 785nm Objektifler: x5, x20, x50, x100 Numune Gereksinimleri: Katı, sıvı, toz ve ince film; Örnek boyutları 4cmx8cmx2cm olmalıdır. EAS-e-TAM uygulamasında MAM üzerinden analiz talebinde bulunabilirsiniz. | |
| gequipment.owner | 01. Izmir Institute of Technology | |
| local.identifier.crisid | equipment14342 | |
| relation.isOrgUnitOfEquipment.latestForDiscovery | 9af2b05f-28ac-4003-8abe-a4dfe192da5e |