X-Işınları Difraktometresi XRD (Bruker D8 Advance)
| dc.date.accessioned | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.date.available | 2025-08-20T22:52:31Z | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11147/17202 | |
| dc.title | X-Işınları Difraktometresi XRD (Bruker D8 Advance) | |
| dspace.entity.type | Equipment | |
| gequipment.acronym | Bruker D8 Advance | |
| gequipment.description | İnce film, bulk numune, ve toz numune analizine imkan sağlayan, XYZ eksenlerinde motorize hareket eden, programlanabilir numune platformu bulunmaktadır. 20-1000 aralığında ölçüm alınabilmektedir. Numune Gereksinimleri: Katı, toz ve ince film; Örnek boyutları, ince film ve katı numuneler için maksimum 4 cm x 4 cm olmalıdır. Örnek miktarı toz numuneler için en az 1 eppendorf tüp hacminde olmalıdır. EAS-e-TAM uygulamasında RÜZMER üzerinden analiz talebinde bulunabilirsiniz. | |
| gequipment.owner | 01. Izmir Institute of Technology | |
| local.identifier.crisid | equipment14338 | |
| relation.isOrgUnitOfEquipment.latestForDiscovery | 9af2b05f-28ac-4003-8abe-a4dfe192da5e |